Работая с нашим сайтом, вы даете свое согласие на использование файлов cookie. Это необходимо для нормального функционирования сайта, показа целевой рекламы и анализа трафика. Статистика использования сайта отправляется в «Яндекс» и «Google»

Понятно

НАУЧНЫЙ ЖУРНАЛ ВЕСТНИК ВОРОНЕЖСКОГО ИНСТИТУТА ВЫСОКИХ ТЕХНОЛОГИЙ

cетевое издание
ISSN 2949-4443

О ХАРАКТЕРИСТИКАХ НАДЕЖНОСТИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ

Преображенский Ю.П. , Чопоров О.Н. , Ружицкий Е.

УДК 621.3

Аннотация
Список литературы
Об авторах

В статье рассматриваются вопросы, связанные с определением характеристик надежности интегральных микросхем.

Преображенский Юрий Петрович

Воронеж, Россия

Чопоров Олег Николаевич

Воронеж, Россия

Ружицкий Евгений

Братислава, Словакия

Ключевые слова: интегральная микросхема, надежность моделирование, ,

Для цитирования: Преображенский Ю.П. , Чопоров О.Н. , Ружицкий Е. , О ХАРАКТЕРИСТИКАХ НАДЕЖНОСТИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ. Вестник Воронежского института высоких технологий. 2021;15(3). Доступно по: https://vestnikvivt.ru/ru/journal/pdf?id=505

Полный текст статьи в PDF

Опубликована 30.09.2021