Работая с нашим сайтом, вы даете свое согласие на использование файлов cookie. Это необходимо для нормального функционирования сайта, показа целевой рекламы и анализа трафика. Статистика использования сайта отправляется в «Яндекс» и «Google»

Понятно

SCIENTIFIC JOURNAL BULLETIN OF VORONEZH INSTITUTE OF HIGH TECHNOLOGIES

Online media
ISSN 2949-4443

ABOUT RELIABILITY CHARACTERISTICS INTEGRAL MICROSCIRCUITS

Preobrazhenskiy Y.P. , Choporov O.N. , Ruzhicky E.

UDC 621.3

Abstract
List of references
About authors

The paper discusses issues related to the determination of the characteristics of the reliability of integrated circuits.

Preobrazhenskiy Yu. P.

Voronezh, Russia

Choporov O. N.

Voronezh, Russia

Ruzhicky E.

Bratislava, Slovakia

Keywords: integrated microcircuit, modeling reliability, ,

For citation: Preobrazhenskiy Y.P. , Choporov O.N. , Ruzhicky E. , ABOUT RELIABILITY CHARACTERISTICS INTEGRAL MICROSCIRCUITS. Bulletin of the Voronezh Institute of High Technologies. 2021;15(3). Available from: https://vestnikvivt.ru/ru/journal/pdf?id=505 (In Russ).

Full text in PDF

Published 30.09.2021